Profil Produk

● Karakteristik bintik optik di lokasi

Spektrometer dan analiser sinar

Pencakupan panjang gelombang 10 ~ 80nm

• Integrasi yang cepat dan mudah

Peralatan multifungsi kompak

Untuk sampling periodik sinar XUV in situ, nanoLIGHT adalah instrumen karakterisasi lengkap. NanoLIGHT menggabungkan fungsi spektrometer XUV dan analiser sinar XUV untuk memulihkan sepenuhnya bypass sinar. Perpindahan antara berbagai mode kerja dapat dilakukan dengan cepat dan otomatis.

Dengan struktur kompaknya sebesar 16x17cm², nanoLIGHT cocok untuk pengaturan eksperimental yang sempit dan merupakan solusi transformasi yang sempurna.

NanoLIGHT dapat merekam kisaran panjang gelombang yang sangat luas dari 10-80nm secara bersamaan, dan unit penyisipan filternya memungkinkan pilihan dan kalibrasi menggunakan filter logam.

Detektor MCP yang dapat disesuaikan dengan efisiensi raster spektrum penuh hingga 20% memungkinkan spektrometer memiliki rentang dinamis yang besar.

Versi dalam ruang nanoLIGHT yang disesuaikan tersedia untuk dipilih!

　　Parameter teknis:

Efisiensi Raster:

Aplikasi

Sumber harmonik tinggi

Ilmu Atosecond

Interaksi laser yang kuat dengan materi

Laser Elektronik Bebas