Probe tembaga permukaan SRP-4

Menerapkan teknologi pengujian resistansi mikro canggih. Probe tali terdiri dari empat probe, AB adalah positif CD adalah negatif; Saat diukur, arus dari kutub positif ke kutub negatif akan memiliki resistensi kecil, melalui hubungan fungsional nilai resistensi dan nilai ketebalan untuk mendapatkan ketebalan tembaga permukaan yang akurat dan andal, tidak dipengaruhi oleh lapisan insulasi dan lapisan tembaga belakang papan sirkuit. Probe SRP-4 yang rusak dapat diganti sendiri dan dipatenkan oleh Oxford Instruments. Fungsi pencahayaan dan penutup perlindungan probe memudahkan penentuan posisi yang akurat saat pengukuran.