Anggota VIP
Mikroskop Elektron Pemindaian Peluncuran Lapangan Dasar Short Resolusi Ultra Tinggi SU8700
Dengan perkembangan teknologi pengambilan data dan pemrosesan data yang cepat, mikroskop elektron memasuki era yang tidak hanya menghargai kualitas da
Perincian produk
Mikroskop Elektron Pemindaian Peluncuran Lapangan Dasar Short Resolusi Ultra Tinggi SU8700
Dengan perkembangan teknologi pengambilan data dan pemrosesan data yang cepat, mikroskop elektron memasuki era yang tidak hanya menghargai kualitas data tetapi juga proses pengambilannya. Sebagai SEM yang berorientasi pada era baru, SU8700 menambahkan kualitas gambar tinggi dan stabilitas tinggi yang ditetapkan oleh Hitachi Telescope, termasuk aliran tinggi seperti pengambilan data secara otomatis.
- *
- Foto perangkat termasuk opsi.
-
Fitur
-
Spesifikasi
Fitur
Pengamatan resolusi tinggi dan kemampuan analisis yang sangat kuat
Senjata elektronik Hitachi High Brightness Short Field dapat mendukung pengamatan resolusi ultra tinggi dan analisis sinar mikro cepat. Tanpa menggunakan perlambatan sampel, pengamatan resolusi tinggi hanya dapat dilakukan dengan tegangan akselerasi rendah 0,1 kV untuk lebih banyak skenario aplikasi. Sementara itu, berbagai detektor baru dan opsi lainnya yang kaya dapat digunakan untuk memenuhi kebutuhan pengamatan yang lebih banyak.
Fungsi otomatisasi canggih*
EM Flow Creator memungkinkan pelanggan untuk membuat alur kerja otomatis untuk pengambilan gambar terus menerus. EM Flow Creator mendefinisikan berbagai fungsi SEM sebagai modul grafis seperti pengaturan pembesaran, pemindahan posisi sampel, penyesuaian jarak fokus dan kontras terang dan gelap. Pengguna dapat menggunakan mouse sederhana untuk menyeret modul-modul ini dalam urutan logis menjadi program kerja. Setelah debug dan konfirmasi, program ini dapat secara otomatis mendapatkan data gambar berkualitas tinggi dan dapat direproduksi setiap panggilan.
Tampilan dan interaksi yang kuat
Dukungan asli untuk monitor ganda yang memberikan ruang operasi yang fleksibel dan efisien.
6 saluran ditampilkan dan disimpan secara bersamaan, memungkinkan pengamatan dan pengambilan sinyal multi yang cepat untuk membawa informasi lebih lanjut.
Dukungan pemindaian tunggal hingga 40.960 × 30.720 piksel ultra tinggi*
Visi besar dan pencitraan piksel tinggi
Gambar kiri adalah gambar piksel tinggi dengan bidang pandang sekitar 120 μm, dengan pemindaian tunggal yang diambil dari sampel potongan super tipis tikus. Membesarkan gambar area persegi panjang kuning dengan angka sederhana untuk mendapatkan gambar kanan. Gambar kanan setara dengan pembesaran angka gambar kiri sebanyak 20 kali, dan masih dapat dengan jelas mengidentifikasi struktur internal sel saraf dan sebagainya.
SU8600 dan SU8700 memiliki piksel pemindaian tunggal hingga 40.960 x 30.720.*
* Pilihan
Spesifikasi
| Sistem optik elektronik | Resolusi Elektronik Kedua | 0.8 nm@15 kV |
|---|---|---|
| 0.9 nm@1 kV | ||
| Membesarkan | 20 ~ 2,000,000 x | |
| Senjata Elektronik | Pangkalan Short Meluncurkan Sumber Elektronik | |
| Akselerasi tegangan | 0.1 ~ 30 kV | |
| Tegangan pendaratan*1,*3 | 0.01 ~ 7 kV | |
| Aliran maksimum | 200 nA | |
| Detektor | Detektor standar | Detektor Atas (UD) |
| Detektor bawah (LD) | ||
| Detektor opsional*3 | Detektor Elektron Penyebaran Kembali dalam Cermin (MD) | |
| Detektor Elektron Penyebaran Kembali Semikonduktor (PD-BSE) | ||
| Detektor vakum rendah sensitivitas tinggi (UVD) | ||
| Detektor transmisi pemindaian (STEM) | ||
| Aksesoris Pilihan*2 | Spektrometer sinar-X (EDS) | |
| Detektor difraksi penyebaran belakang elektron (EBSD) | ||
| Meja sampel | Poros penggerak motor | 5 sumbu motor drive |
| Rentang Pindah | ||
| X | 0 ~ 110 mm | |
| dan | 0 ~ 110 mm | |
| Z | 1.5 ~ 40 mm | |
| T | -5 ~ 70° | |
| R | 360° | |
| Ruang sampel | Ukuran sampel | Diameter maksimum: 150 mm*4 |
| Mode vakum rendah | Rentang vakum | 5 ~ 300 Pa |
- *1
- Dalam Mode Perlambatan
- *2
- Detektor yang dapat dikonfigurasi
- *3
- Pilihan
- *4
- Jika ada kebutuhan ukuran sampel yang lebih besar, silakan hubungi kami.
Kategori Produk Terkait
- Sistem balok ion fokus (FIB/FIB-SEM)
- Perangkat pra-pemrosesan sampel TEM/SEM
Penyelidikan online
-
Kontak
-
Perusahaan
-
Telepon
-
Email
-
WeChat
-
Kode Verifikasi
-
Kandungan Pesan
-