FT110A X-ray fluorescent lapisan ketebalan pengukur kinerja:

1. langsung menguji!

2.10 detik untuk menyelesaikan pengukuran lapisan emas sangat tipis 50nm!

3. Tidak dapat mengukur sampel!

4. Memilih lokasi pengukuran lebih nyaman melalui gambar keseluruhan sampel!

Fitur pengukur ketebalan pelapis sinar-X FT110A:

1. Meningkatkan operasionalitas dengan fungsi lokasi otomatis

Saat mengukur sampel, yang sebelumnya membutuhkan waktu sekitar 10 detik untuk fokus sampel, sekarang dapat dilakukan dalam waktu 3 detik, yang sangat meningkatkan operasionalitas penempatan sampel.

2. Peningkatan akurasi pengukuran ketebalan membran mikrozona

Dengan mengurangi jarak antara sampel dan lain-lain, sehingga di bawah rectifier kecil (0,1, 0,2 mm), juga dapat secara signifikan meningkatkan akurasi pengukuran ketebalan membran.

Pengukuran multi-lapisan hingga 5 lapisan

Dengan perangkat lunak metode FP film tipis, pengukuran multi-lapisan hingga 5 lapisan 10 elemen dapat dilakukan bahkan tanpa lapisan standar ketebalan.

Sistem pengamatan luas (opsional)

Posisi pengukuran dapat ditentukan dari gambar keseluruhan sampel 250 x 200mm yang lebih besar.

5. sesuai dengan papan sirkuit cetak besar (opsional)

Dapat diukur pada papan sirkuit cetak besar 600 × 600mm.

6. harga rendah

Ini meningkatkan fungsionalitas dan mengurangi harga lebih dari 20% dibandingkan dengan model sebelumnya.

FT110A X-ray fluorescent lapisan ketebalan pengukur spesifikasi:

Pilihan:

· Perangkat lunak pengolahan gambar

· Software FP blok (analisis komposisi bahan)

· Perangkat lunak jalur pengukuran blok (analisis cairan plating)