Tabung sinar-X terletak di atas sampel analisis, meminimalkan risiko kerusakan tabung cahaya bubuk yang mengambang di dalam ruang vakum dan membuat persiapan sampel lebih cepat dan mudah tanpa perekat yang diperlukan saat melakukan analisis sampel bubuk.
Kecepatan vakum pompa dan debunking langsung dapat beralih pada kecepatan lambat dan cepat untuk mengoptimalkan volume penanganan sampel bubuk dan sampel logam.

Fitur

• Mencapai analisis akurasi tinggi dari bubuk dan sampel padat dengan berbagai kandungan elemen yang berbeda

• Meja sampel penentuan presisi tinggi memenuhi persyaratan analisis paduan presisi tinggi

• Sistem optik khusus mengurangi kesalahan yang disebabkan oleh permukaan sampel yang tidak rata

• Ruang sampel dapat dengan mudah dipindahkan dan mudah dibersihkan

• Antarmuka operasi yang sederhana dan otomatisasi tinggi

ZSX Primus III +

Rigaku ZSX Primus III + mengukur dengan cepat unsur-unsur atom utama dan sekunder dari oksigen (O) hingga uranium (U) dalam berbagai jenis sampel dengan standar yang sangat sedikit.

Keandalan lebih tinggi dibandingkan pipa komponen optik

ZSX Primus III + memiliki konfigurasi optik inovatif di atas. Karena pemeliharaan ruang sampel, tidak perlu lagi khawatir tentang jalur sinar yang terkontaminasi atau downtime. Geometri di atas komponen optik menghilangkan masalah kebersihan dan memperpanjang waktu penggunaan.

Posisi sampel presisi tinggi

Posisi sampel dengan presisi tinggi memastikan jarak antara permukaan sampel dan tabung sinar-X tetap konstan. Hal ini penting untuk aplikasi yang membutuhkan presisi tinggi, seperti analisis paduan. ZSX Primus III + menggunakan konfigurasi optik unik untuk analisis presisi tinggi yang dirancang untuk meminimalkan kesalahan yang disebabkan oleh permukaan yang tidak rata di sampel, seperti manik-manik lebur dan partikel tertekan

Parameter dasar SQX menggunakan perangkat lunak EZ-scan

EZ Scan memungkinkan pengguna menganalisis sampel yang tidak diketahui tanpa pengaturan sebelumnya. Fungsi menghemat waktu hanya dengan beberapa klik mouse dan masukkan nama sampel. Dikombinasikan dengan perangkat lunak parameter dasar SQX, ini dapat memberikan hasil XRF yang paling akurat dan tercepat. SQX dapat mengoreksi secara otomatis semua efek matriks, termasuk tumpang tindih garis. SQX juga dapat mengoreksi efek stimulasi sekunder fotoelektronik (cahaya dan elemen ultraringan), atmosfer yang berbeda, kotoran dan ukuran sampel yang berbeda. Menggunakan perpustakaan cocok dan analisis pemindaian yang sempurna dapat meningkatkan akurasi.

Fitur

• Analisis dari O ke U

• Optik di atas pipa meminimalkan masalah polusi

• Luas kecil dan ruang laboratorium terbatas yang digunakan

• Posisi sampel presisi tinggi

• Komponen optik khusus dapat mengurangi kesalahan yang disebabkan oleh permukaan sampel lengkung

• Alat Perangkat Lunak Kontrol Proses Statistik (SPC)

• Efisiensi mengoptimalkan evakuasi dan kebocoran vakum